設備特點：
非接觸式2D測量，干膜濕膜均可測量
分辨率低至8nm，測量范圍*高可達8mm
高性價比，基于高精度共焦傳感器
大理石主體架構，碳纖維外殼
高精度直線電機，*大70mm運動行程
適用領域：厚膜印刷電路，混合電路(Hybrid Circuit)、BGA、TAB 及 FLIP/CHIP、SOLDER BUMPING厚度測量、SMT印刷錫膏測量、2D尺寸及角測
應用案例：
1、混合電路膜厚測量
2、多層陶瓷電容表面測量